Mikroskoptyp, der für wissenschaftliche Untersuchungen von Werkstoffen benutzt wird. Der Elektronenstrahl in einem Raster-Elektronenmikroskop (REM) wird zur dreidimensionalen Betrachtung von Riss- und Bruchflächen oder zur optischen und chemischen Analyse kleiner Gefügebestandteile genutzt. In einem Transmissions-Elektronenmikroskop (TEM) durchdringt der Elektronenstrahl eine gedünnte Probe. Damit lassen sich kleinste Gefügebestandteile im nm-Bereich sichtbar machen. Durch die Beugung des Elektronenstrahls kann man den strukturellen Aufbau von Werkstoffen bestimmen.